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TIR100-2红外热发射率测定仪,TIR100-2热辐射率仪

TIR100-2红外热发射率测定仪,TIR100-2热辐射率仪

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    广东 深圳 龙岗区 深圳龙岗区沙平北路111号吉茂大厦608A
产品特性:TIR100-2是否进口:否加工定制:是
品牌:德国Inglas型号:TIR100-2类型:红外热发射率测定仪
外形尺寸:230毫米x 140毫米x 120毫米mm重量:大约 2,0公斤Kg产品用途:实验室的研究和开发

TIR100-2红外热发射率测定仪,TIR100-2热辐射率仪详细介绍

TIR100-2红外热发射率测定仪,TIR100-2热辐射率仪详细介绍:

TIR 100-2红外热发射率测定仪,TIR100-2热辐射率仪是一款紧凑的手持式设备,可***,无损地测量几乎所有表面的热辐射率。
测量元件,操作控制,控制设备和评估电子设备也都节省了空间,并放置在手持式设备中。仪器操作仅需电源。该设备的操作通过发光的触摸屏显示器实现。

TIR100-2红外热发射率测定仪,TIR100-2热辐射率仪功能:

用100°C半球形黑体辐射器漫射物体表面。在属于仪器的校准标准的校准值的帮助下,测量反射的红外辐射并将其转换为发射率的值。结果立即显示在设备的触摸屏上。

详细的说明手册介绍了测量过程的物理基础以及进行***测量的方法。

TIR100-2红外热发射率测定仪,TIR100-2热辐射率仪应用领域


TIR100-2可用于涂覆过程后的质量控制,或用于实验室的研究和开发。

玻璃的测量结果相当等于

符合EN 12898的结果。

涂层箔作为建筑箔的发射率是

在prEN 15976之后测量。
TIR100-2红外热发射率测定仪,TIR100-2热辐射率仪的一些典型的应用:

镀膜玻璃的鉴定:1.镀膜玻璃的质量控制
  热保护绝缘玻璃的的低U-值取决于玻璃镀膜的低发射率,TIR 100对镀膜的质量控制以及实验室中开发新镀膜非常有用。

涂有涂层的太阳能集热板的鉴定:太阳能收集器生产的质量控制
优质的太阳能收集器的效率取决于收集器表面非产低的发射率,因此TIR 100也是此行业质量控制的理想设备

涂层箔的鉴定

 卫星热镀层鉴定
 

TIR100-2红外热发射率测定仪,TIR100-2热辐射率仪技术数据


测量范围温度。发射率<0,020…0,980

重复精度(精度)+-0.005(lowE).. +-0,01(hiE)

光谱范围2,5μm-40μm

辐射能8μm

黑体温度100°C

测量时间5秒

测量点约 5毫米

额定功率 130 V在...上230 V?/ 115 V?

RS232接口(可选的打印机输出)

尺寸230毫米x 140毫米x 120毫米

重量2.0公斤

参考(校准标准)带肋的铝块,具有的热稳定性

低辐射率:高精度研磨铝

高发射率:黑光陷阱

低发射面的参考发射率典型值?0,012

模具高发射面的典型值> 0.96

出厂时,所有参考文献均已单独调整至国家物理实验室(GB)的校准标准。

电压范围90伏交流电– 260伏交流电
额定功率240 VAC
130 W 120 VAC 260瓦
测量范围作为校准标准
测量不确定度+-0,005(lowE)…+ -0,01(hiE)
光谱范围2,5 – 40?m
λ辐射能量的7.8微米
散热器温度100°摄氏度
测量持续时间大约 5秒
测量点大约 5毫米
界面USB-B
尺寸230毫米x 140毫米x 120毫米
重量TIR100-2:大约 2,0公斤

TIR100-2红外热发射率测定仪,TIR100-2热辐射率仪的测量原理

样品在100°C的温度下经受热辐射。黑体半球形辐射器用于封装样品,以确保均匀照明。以一定角度观察反射的红外辐射,并将其转换为数值。然后根据高和低发射率参考标准的校准表绘制该值。
使用TIR时,只需按一下按钮即可完成所有这些操作。

TIR100-2红外热发射率测定仪,TIR100-2热辐射率仪测量方法:

TIR100-2红外热发射率测定仪,TIR100-2热辐射率仪标配包括:


TIR100-2型号,您可以选择电源电压(115V或230V)。
二合一校准标准:抛光铝的低发射率值侧和黑体阱的高发射率侧。
校准标准的校准证书,可追溯至柏林(GER)的Physikalisch-Technische Bundesanstalt(PTB)的参考标准,参考。编号73213 PTB 16和73214 PTB16。有效期为两年。
可上锁的便携式硬质铝制外壳,可轻松存储和运输TIR100-2和标准件。
英文印刷版手册。

TIR100-2红外热发射率测定仪,TIR100-2热辐射率仪可选配:铝箔支架


箔片固定器是一种实用的设备,可将薄涂层的箔片样品(和其他纺织品)平整且均匀地夹持在固定器板的整个表面上,如图所示。
两侧各使用两个磁夹将样品锁定在适当的位置。

使用箔架的另一个好处是可以帮助样品在测量过程中保持室温***的时间。当使用薄材料(如薄涂层的箔)时,这将有助于减少波动,从而提高发射率结果的准确性。

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